電弱點(diǎn)測(cè)試儀的使用范圍和特點(diǎn)

電弱點(diǎn)測(cè)試儀使用范圍：

據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 13541-92電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》，電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)（電弱點(diǎn)）數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標(biāo)。電氣用塑料薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀，無(wú)須將膜卷分切成小卷，根據(jù)薄膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試。由于薄膜在生過(guò)程中極易引起縱向劃傷，該儀器引用“電 弱線”概念，即在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的試樣漏電 流均超過(guò)1mA時(shí)，認(rèn)定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過(guò) 程中存在縱向劃痕，從而產(chǎn)生“電弱線”，測(cè)試儀統(tǒng)計(jì)的電弱點(diǎn)總數(shù)為電弱點(diǎn)數(shù)與電弱線數(shù)之和，這 樣的測(cè)試數(shù)據(jù)史能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)顯水平， 且有助于分析生產(chǎn)過(guò)程中存在的問(wèn)題，從而有針對(duì)地提出解決問(wèn)題的方案。

主要特點(diǎn):

1、能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

2、測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。

3、主要元器件均選用進(jìn)口品牌（如歐姆龍，美信，ABB等），有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。

4、測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。

5、測(cè)試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。

6、擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。

7、多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。

8、過(guò)壓、過(guò)流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門開(kāi)啟保護(hù)。

了解更多產(chǎn)品請(qǐng)登錄：

http://www.huaceyq.cn

http://www.huaceyq.com

http://www.51zcr.cn/

可按用戶要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品

華測(cè)儀器－－致力于材料電學(xué)測(cè)試技術(shù)

相關(guān)產(chǎn)品：