華測(cè)電學(xué)測(cè)試高溫介電溫譜儀

產(chǎn)品概述

1.溫度波動(dòng)小于±0.25℃，抗干擾性提高300倍
華測(cè)電學(xué)測(cè)試高溫介電溫譜儀重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線(xiàn)纜，提高測(cè)試參數(shù)的準(zhǔn)確度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。搭配Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、升溫速度和測(cè)量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。過(guò)壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以確保測(cè)試過(guò)程的**，當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
2.除去電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響
目前電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設(shè)備，將對(duì)電網(wǎng)造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號(hào)測(cè)量過(guò)程中影響弱信號(hào)的采集精度，華測(cè)儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用新特殊參數(shù)分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)了高達(dá)120MHz的高頻測(cè)量,從而滿(mǎn)足了很多半導(dǎo)體功能材料和納米器件的測(cè)試需求。
3.專(zhuān)用高頻測(cè)試線(xiàn)纜，更適合高頻測(cè)量
測(cè)試引線(xiàn)使用4端子對(duì)配置以擴(kuò)展測(cè)量端口，附帶BNC陽(yáng)頭連接板，用于連接高溫爐的測(cè)試夾具，同時(shí)測(cè)試線(xiàn)采用高頻測(cè)試專(zhuān)用測(cè)試線(xiàn)，設(shè)計(jì)兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測(cè)量.

4.除去不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能，更強(qiáng)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽
華測(cè)系列阻抗分析儀是華測(cè)儀器電子事業(yè)部采用當(dāng)前***自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的新高度。在測(cè)量10Hz-50MHz的頻率瓶頸；解決了國(guó)外同類(lèi)儀器只能分析、無(wú)法單獨(dú)測(cè)試的缺點(diǎn)；采用單測(cè)和分析兩種界面，讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。得益于***自動(dòng)平衡電橋技術(shù)，在10Hz-50MHz的頻率范圍可以確保0.05%的基本精度?？爝_(dá)5ms的測(cè)試速度及高達(dá)50M的阻抗測(cè)試范圍可以滿(mǎn)足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效除去測(cè)試線(xiàn)電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

產(chǎn)品參數(shù)

5.測(cè)量頻率：軟件可設(shè)置測(cè)試的頻率
6.數(shù)據(jù)處理：測(cè)量數(shù)據(jù)生成Excel及pdf兩種文件格式
7.溫度范圍：RT-800 (1650°)
8.控溫精度：±0.25℃
9.升溫斜率：10℃/min（可設(shè)定）
10.測(cè)試頻率：10Hz~120MHz
11.加熱方式：近紅外加熱
12.冷卻方式：水冷
13.輸入電壓：220V
14.樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm
15.電極材料：鉑金
16.夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷
17.絕緣材料：99氧化鋁陶瓷
18.測(cè)試功能：介電溫譜、頻譜
19.數(shù)據(jù)傳輸：4個(gè)USB接口
20.設(shè)備尺寸：600×500×350mm

應(yīng)用領(lǐng)域

華測(cè)電學(xué)測(cè)試高溫介電溫譜儀可以測(cè)量陶瓷材料的高溫介電常數(shù),了解其在不同溫度、頻率下的電學(xué)性能。 應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等。

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